干擾水中余氯檢測(cè)儀的三個(gè)關(guān)鍵因素

　　干擾水中余氯檢測(cè)儀的三個(gè)關(guān)鍵因素
　　一、pH問(wèn)題
　　余氯是由溶解lu氣，次氯酸和次氯酸根三部分組成。水中余氯檢測(cè)儀其中的三個(gè)組成部分含量依據(jù)水中的pH值變化。
　　根據(jù)測(cè)量原理，測(cè)量余氯濃度就是測(cè)量次氯酸的濃度，然后換算成余氯濃度。檢測(cè)水中的次氯酸的重要條件是樣品pH在5-7之間。因?yàn)樵谶@個(gè)pH范圍里，水中的次氯酸濃度相對(duì)很高，可以大于80%；儀器檢測(cè)信號(hào)可以達(dá)到大，干擾可以相對(duì)克服到低。 因?yàn)?，樣品預(yù)酸化是余氯檢測(cè)是否準(zhǔn)確的重要條件。所以，HACH的CL17余氯分析儀采用了緩沖液，把測(cè)量的樣品的pH保持在6.3-6.6之間，如圖1所示。由于pH的變化范圍被固定，因此樣品里pH變化引起的干擾就被極大的限制。
　　通常，飲用水的pH范圍是在7.3-8.5之間；在這個(gè)pH范圍里，次氯酸根濃度很高，甚至大大于次氯酸的濃度。所以，樣品的pH值保持穩(wěn)定，適當(dāng)把樣品水預(yù)酸化，pH保持在5-7范圍之間，是余氯儀準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)的重要保證。否則，水中余氯檢測(cè)儀的測(cè)量的準(zhǔn)確度就會(huì)出問(wèn)題，即使分析系統(tǒng)有pH自動(dòng)補(bǔ)償?shù)墓δ堋?br />　　二、流量、壓力的干擾
　　電極法在測(cè)量余氯的過(guò)程中，樣品不停的流過(guò)探頭表面，樣品的流量、壓力的變化會(huì)對(duì)余氯測(cè)量值帶來(lái)偏差。為了電極法余氯儀設(shè)計(jì)了多種形式的流通池，也不能*克服流量變化對(duì)電極引起的干擾效果。在管網(wǎng)末梢的流量受到用水高峰影響很大，壓力和流量經(jīng)常有忽高忽低的現(xiàn)象。
　　樣品壓力\流量變化主要會(huì)對(duì)電極法余氯測(cè)量產(chǎn)生干擾。造成這個(gè)結(jié)果的原因是，例如常見(jiàn)的電極表面覆蓋了一層膜，樣品壓力變化會(huì)改變電極表面和膜之間的電解液的厚度，也會(huì)給覆蓋膜的張力和膜的空隙度帶來(lái)微小的變化，這些變化足以導(dǎo)致余氯監(jiān)測(cè)探頭的錯(cuò)誤響應(yīng)。
　　三、從校正方法分析水中余氯檢測(cè)儀的偏差和干擾
　　下面關(guān)于比色法和電極法校正原理的分析：
　　比色法和電極法的校正原理是*不同的。DPD比色法是國(guó)標(biāo)方法，其它的非國(guó)標(biāo)方法只有是把實(shí)際的應(yīng)用點(diǎn)選在校正點(diǎn)附近。通常電極法余氯探頭的準(zhǔn)確應(yīng)用是在校正點(diǎn)附近±10%。
　　CL17在校正和測(cè)試過(guò)程中分別設(shè)計(jì)了兩次扣除本底，校正零點(diǎn)時(shí)候的扣除本底是去除系統(tǒng)偏差，在測(cè)試時(shí)候的扣除本底是去除電子漂移和污染引起的偶然偏差。當(dāng)管網(wǎng)末梢余氯監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)是零點(diǎn)零幾毫克/升的時(shí)候，CL17的測(cè)試過(guò)程是利用第二次測(cè)量的吸光度比次測(cè)試的吸光度數(shù)值高，所以，比色法在線分析儀是相對(duì)可信的。
　　從原理上理解水中余氯檢測(cè)儀的常見(jiàn)問(wèn)題和干擾，對(duì)準(zhǔn)確測(cè)量余氯是至關(guān)重要的。特別是針對(duì)管網(wǎng)末梢的微量余氯檢測(cè)更加重要。總結(jié)有以下：
　　環(huán)境條件：由于pH，溫度，壓力，流量等帶來(lái)的測(cè)量干擾。
　　系統(tǒng)漂移：電子信號(hào)漂移，樣品污染引起系統(tǒng)本底漂移；
　　水中余氯檢測(cè)儀正確校正：由于余氯的標(biāo)準(zhǔn)樣品配置不容易，所以很難驗(yàn)證校正曲線的線性程度和引起的偏差。